プリント基板、PWB、電子基板の 設計・実装、ハードウェアの設計・開発・実装

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基板実装・品質・技術

ガーディングについて

本装置は、部品単品でなく回路網の中の部品を検査しているため、周囲の影響を
受けて検査できない場合があります。
下記に、測定検査不可能な例を示します。(×印が検査不可能な部品です。)

定電流測定法
定電流測定法のガーディングは、ハイピンとローピン間の電位差を差動アンプ(IC1)で検出し、RXの両端電圧(VG)と同電位の出力をIC2を介してガードピン(ガードソース)に供給します。
IC1の入力インピーダンスは1MΩ以上と大きいため、Rs1・ Rs2の線抵抗は無視できます。
ガードセンスは、IC2に入力されたVGと、ピン先のガード電圧を比較し、常にガードピンをハイビンと同電位にし、ハイピンからRaに電流が流れ、RXが測定できるようにしています。

定電圧測定法
定電流測定法のガーディングは、ガーディングピンを0Vにしし、ローピン間と同電位にします。
そうすればRbに電流が流れなくなり、RAとRbの影響を受けずに RXが正確に測定できます。
IC2の入力側のスイッチをCV側に自動的に切り換え、ガードソースを0Vにします。
ガードセンスは、IC2の入力の0Vと、ピン先の電圧を比較し、常にガードピンを0Vにします。